國產光譜儀是現(xiàn)代光學檢測、科研分析與工業(yè)監(jiān)控的關鍵儀器，能夠以亞納米級分辨率（可達0.02nm）精確捕捉光信號的波長、強度與輪廓，廣泛應用于激光表征、熒光光譜、等離子體診斷、環(huán)境監(jiān)測及生物醫(yī)學成像等領域。國產光譜儀的性能源于多個精密光學與電子模塊高度集成與協(xié)同優(yōu)化。
一、狹縫與準直系統(tǒng)
入射狹縫（通常5–100μm可選）決定光譜分辨率——狹縫越窄，分辨率越高，但光通量降低。光線經狹縫后由高精度非球面或拋物面反射鏡準直為平行光束，確保后續(xù)色散均勻，減少像差。
二、高刻線密度光柵
采用全息或刻劃式平面/凹面衍射光柵，刻線密度高達1200–2400lines/mm，將復合光按波長精細分離。部分型號配備雙光柵轉塔，可切換不同波段（如200–400nm紫外與400–1100nm可見近紅外），兼顧寬譜覆蓋與高分辨。
三、聚焦光學與探測器
色散后的光譜經聚焦鏡投射至探測器焦面。高分辨率機型普遍采用背照式CCD或sCMOS傳感器，具備高量子效率（>90%）、低暗電流（<0.001e/pix/s）和深度制冷（–10℃至–40℃），顯著提升信噪比與弱光探測能力。
四、光纖接口與光學耦合
標配SMA905或FC/PC光纖接口，兼容各類采樣附件（如積分球、探頭、顯微鏡）。優(yōu)化的光纖-狹縫耦合設計最大限度減少光能損失，確保從樣品到光譜儀的高效傳輸。
五、嵌入式控制與軟件系統(tǒng)
內置FPGA或ARM處理器實現(xiàn)實時數(shù)據(jù)采集與預處理；配套軟件支持自動波長校準（汞氬燈參考）、暗背景扣除、峰位識別、多光譜疊加及API二次開發(fā)，滿足科研與工業(yè)自動化需求。
更新時間：2025-12-18
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